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主營產品：鐵素體含量檢測儀鐵素體測試儀鐵素體測量儀鐵素體測定儀超聲波探傷儀色彩色差儀鋼筋掃描儀X射線測厚儀紫外線燈高溫耦合劑

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產品圖片	產品名稱/型號	產品簡單介紹
	手提式插拔式探頭鍍層厚度測量儀 ISOSCOPE?FMP10 DELTASCOPE?FMP10	手提式插拔式探頭鍍層厚度測量儀/覆層膜厚計/鍍層膜厚儀/涂層厚度測試儀ISOSCOPE®FMP10或DELTASCOPE®FMP10，前者采用電渦流方法測量導電基材上的非導電物質、后者采用電磁感應法測量磁性金屬基材上面的非磁性涂鍍層物質。FMP10系列手提式插拔式探頭鍍層厚度測量儀便攜式設計，美觀大方。
	手提式涂膜測厚儀 fischer DUALSCOPE? FMP20	手提式涂膜測厚儀/涂鍍層厚度測試儀/雙功能覆層膜厚計fischer DUALSCOPE® FMP20是一款可以接雙用探頭FD10的機型，可以實現電磁感應和電渦流兩者的功能合一，是FMP40的簡配版本，使得fischer DUALSCOPE® FMP20手提式涂膜測厚儀具有更好的價格優勢。
	涂鍍層厚度檢測儀 DELTASCOPE? FMP30 ISOSCOPE? FMP30	涂鍍層厚度檢測儀/涂層厚度測試儀/覆層厚度儀fischer DELTASCOPE® FMP30/ISOSCOPE® FMP30是一款單功能智能機型，可以配備磁性探頭PROBE FGAB1.3或者渦流探頭PROBE FTA3.3H，滿足不同基材測量。涂鍍層厚度檢測儀FMP30系列如同FMP40具有豐富的數據處理功能選項。
	德國菲希爾雙功能鍍層厚度測試儀 fischer DUALSCOPE? FMP40	德國菲希爾雙功能鍍層厚度測試儀/磁性鍍層膜厚儀/電渦流覆層厚度儀fischer DUALSCOPE® FMP40是菲希爾FMP10-40系列機型中配置的一款，可以配備雙功能探頭FD10，具備自動識別鍍層基材功能，無需更換探頭。同時fischer DUALSCOPE® FMP40德國菲希爾雙功能鍍層厚度測試儀也是FMP10-40機型中配置的一款，具有諸多數據處理功能。
	庫侖法電位差/多層鎳測試儀 COULOSCOPE? CMS STEP	庫侖法電位差/多層鎳測試儀/法拉第測厚儀COULOSCOPE® CMS STEP采用庫侖方法的鍍層測量儀，并且可以測量多層鎳厚度及電位差。COULOSCOPE® CMS STEP庫侖法電位差/多層鎳測試儀采用大LCD顯示器，帶鍵盤。預先定義大約100種常用金屬鍍層，50條存儲記錄用于特定應用的參數和3000個測量值。
	菲希爾電解測厚儀 fischer COULOSCOPE?CMS	菲希爾電解測厚儀/電解法鍍層厚度測試儀/庫倫測厚儀fischer COULOSCOPE®CMS采用庫倫法測量幾乎所有金屬鍍層厚度，無論基材是金屬或非金屬，無論鍍層結構是單鍍層還是多鍍層。COULOSCOPE®CMS菲希爾電解測厚儀符合DIN EN ISO 2177標準。
	X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 FISCHERSCOPE? X-RAY XDLM? 237	X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量分析極薄鍍層和超小含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監控的合適的測量儀器。
	金屬電導率測試儀 SMP10	金屬電導率測試儀SMP10是德國菲希爾公司的針對金屬如銅、鋁、鋅的非鐵金屬（也就是非磁性金屬）的電導率測試的檢測設備。全稱Fischer SIGMASCOPE® SMP10，可以快速、簡便地現場測量非鐵磁性金屬電導率（符合DIN EN 2004-1, ASTM E 1004標準）
	菲希爾涂層膜厚儀 FMP10 FMP20	菲希爾涂層膜厚儀FMP10、FMP20根據主機以及探頭感應方式也相應分為DELTASCOPE®FMP10、SOSCOPE®FMP10、DUALSCOPE®FMP20，對于菲希爾涂層膜厚儀儀器，您可以根據您的應用從新的FMP家族中選取；對于探頭，我們為您提供了大量高精度的探頭，相信一定有一款適合您
	菲希爾涂鍍層測厚儀 FMP30 FMP40	德國fisher菲希爾涂鍍層測厚儀FMP30、FMP40系列是的涂鍍層測厚儀，FMP30、FMP40新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無損且高精度的涂鍍層厚度測量。無論是生產過程中的質量控制，還是在來料檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的用戶體驗和多樣的選擇來滿足您的需求。由于采用了模塊化設計，您可以為您的特殊需求分別選擇儀器和探頭
	鐵素體檢測儀 MP30E-S	鐵素體檢測儀MP30E-S測量原理為磁導原理。鐵素體含量是通過磁導率確定。主要性能參數是通過在有名實驗室里大量實驗樣件的基礎上得到，并存儲在儀器內。通過正確校準標準試塊測量鐵素體含量，鐵素體含量測量的精度得到改進、提高。
	X-RAY熒光測厚儀 X-RAY XULM	X-RAY熒光測厚儀、X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應用于鍍層厚度測量，同時也適于進行元素分析。 X-RAY熒光測厚儀\|x射線測厚儀\|x熒光光譜儀\|熒光光譜分析可以對幾乎任意尺寸和狀態的工件進行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進行分析。
	X射線測厚儀 FISCHERSCOPE? X-RAY XDL? 210	X射線測厚儀\|X-RAY鍍層分析儀\|菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板。
	磁性非磁性兩用測厚儀 MPOR MP0	MPOR磁性非磁性兩用測厚儀/膜厚儀為德國生產，集合了磁性測厚儀（P-MP0D）和渦流測厚儀（I-MP0D）兩種儀器的功能，是D-MP0D型儀器的改進型產品。可用于測量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。
	鐵素體測定儀 FMP30	鐵素體測定儀（鐵素體含量測定儀）主要是測量奧氏體不銹鋼，雙相不銹鋼等焊縫焊接部分中的鐵素體含量，可以預防其發生斷裂，脆化等，保證產品和工程**。